AEHR TEST SYS

Über AEHR TEST SYSTEMS

Aehr Test Systems, Inc. Bietet Testlösungen für das Testen, Einbrennen und Stabilisieren von Halbleiterbauelementen in Wafer-Ebene, Singular-Matrize und in Form von Gehäuseteilen. Zu den Produkten gehören die FOX-P-Familie von Test- und Burn-in-Systemen sowie FOX WaferPak Aligner, FOX WaferPak Schütz, FOX DiePak Carrier und FOX DiePak Loader. Die Systeme FOX-XP und FOX-NP sind Vollwaferkontakt- und Singular-Matrize/Modul-Test- und Burn-in-Systeme, die eine Reihe von Geräten testen, einbrennen und stabilisieren können, wie Siliziumkarbid-basierte und andere Leistungshalbleiter, 2D- und 3D-Sensoren, die in Telefonen, Tablets und anderen Computergeräten verwendet werden. Das FOX-CP-System ist eine kompakte Testlösung mit einem Wafer für Logik-, Speicher- und photonische Geräte. FOX WaferPak Schütz enthält ein Vollwafer Schütz, das Wafer bis zu 300 Millimeter prüfen kann, wodurch Hersteller integrierter Schaltkreise Tests, Burn-in und Stabilisierung von Vollwafern auf den FOX-P Systemen durchführen können. Es bietet Lösungen für die Zuverlässigkeit von verpackten Teilen/zum Einbrennen von Testlösungen.